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ESPI - 电子散斑干涉
基于电子散斑干涉法（ESPI=Electronic Speckle Pattern）的应力应变测量光学解决方案:
先进材料和部件的有效开发需要了解它们在各种负载条件下的行为。
光学全场测量技术越来越多地应用于材料测试、断裂力学和振动分析。
Dantec公司的ESPI系统是为完整的三维、全场、高灵敏度的位移、
应变和应力分析而设计的。
该测量几乎适用于任何材料和构件，并对其测量区域进行非接触式测量。
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